技術(shù)文章
HL8001系列zeta電位分析儀
常見的幾種測試電位方法:
1.電泳光散射法:常見的測試zeta電位的方法是利用光學(xué)法,也就是電泳光散射法,由于此方法可以和動態(tài)光散射法相結(jié)合,隨著納米粒度及zeta電位儀的市場擴大,而這種方法被廣大客戶接受。此方法的特點有:樣品必須要進行稀釋后測試;不同濃度對測試結(jié)果影響比較大;測試結(jié)果重復(fù)性較差,一般在±10mv以內(nèi);
2.超聲電聲法電聲法不是采用光學(xué)方法,而是采用聲波信號,因此設(shè)備有聲波的優(yōu)勢。穿透力強,可以進行原液測試。原液測試樣品的zeta電位時和稀釋后測試結(jié)果會不一樣,因為原液時顆粒的雙電層被壓縮。此方法優(yōu)勢有:樣品無需稀釋,原液進行測試分析樣品的粒徑和zeta電位值,更加準確表征樣品本身狀態(tài)。測試結(jié)果重復(fù)性比較好。一般在±0.3mv以內(nèi)??梢詼y試微觀參數(shù),如德拜長度,杜坎數(shù),雙電層的面電荷密度等。
3.流動電位法:以上兩種方法主要是測試液體的zeta電位,有很多客戶需要測試固體表面的zeta電位,中空纖維內(nèi)部的zeta電位,膜表面的zeta電位等,此時即需要流動法來進行測試。即在樣品池中加入樣品,在一定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池,緩沖液會帶動樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極,測試得到電壓值。
4.微電泳法:微電泳法測試zeta電位,前端兩側(cè)為四個電極,進行正向和反向加電場,*上方為ccd相機,進行對運動的帶電粒子做視頻跟蹤,得到信號,從而得到每一個顆粒的遷移率,計算得到每個顆粒的zeta電位,從而得到zeta電位的分布。
zeta電位儀測試的重要性及原理:
zeta電位是對顆粒間的靜電、電荷排斥/吸引強度的度量,是影響穩(wěn)定性的基本參數(shù)之一。通過測量可詳細了解分散、凝聚或聚團的原因,還可改善分散劑、乳化劑及懸浮劑的配方。
zeta電位可用來作為膠體體系穩(wěn)定性的指標(biāo),如果顆粒帶有很多正的或者負的電荷,它們就會相互排斥,從而達到整個體系的穩(wěn)定性。相反,如果顆粒帶有很少正的或者負的電荷,它們就會相互吸引,從而達到整個體系的不穩(wěn)定性。一般來說,zeta電位愈高,顆粒的分散體系愈穩(wěn)定,水相中顆粒分散穩(wěn)定性的分界線一般認為在+30mV或-30mV,如果所有顆粒都帶有高于+30mV或低于-30mV,則該分散體系應(yīng)該比較穩(wěn)定。
zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)?,F(xiàn)代儀器可以通過簡便的手段快速準確地測得。大致原理為:通過電化學(xué)原理將測量轉(zhuǎn)化成帶電粒子淌度的測量,而粒子淌度的測量測是通過動態(tài)光散射,運用波的多普勒效應(yīng)測得。
zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測定等電點、研究界面反應(yīng)過程的機理。通過測定粉體的Zeta電位,從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點,是認識粉體表面電性的重要方法,在粉體表面處理中也是重要的手段。與*內(nèi)外其它同類型儀器相比,它具有顯著的*性。
zeta電位儀應(yīng)用行業(yè):
1.半導(dǎo)體:研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
2.醫(yī)藥和食品行業(yè):乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品),蛋白質(zhì)功能研究,核糖體分散和凝聚控制研究,表面活性劑功能研究(微囊)。
3.陶瓷和顏料工業(yè):表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機溶膠的研究,顏料的分散和凝聚的控制研究,浮礦收集器的吸附研究。
4.聚合物和化工領(lǐng)域:乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究,乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。